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二极管芯片计数

1. 项目背景

作为LED的核心部件，管芯（二极管芯片）的工艺要求极高。从wafer上划裂然后倒膜至蓝膜上后需要经过严格的电测，测试参数决定了管芯的等级。除此还会进行人工的全检外观目测，通过吸管把外观不良的芯片剔除。作为产品的管芯有圆片和方片之分，但不管哪种都是已经经过人工剔除工序的产品，管芯数量就和之前确定的数量有很大差别，如何得到产品上最后工序以后的管芯数量靠人眼判断的话就存在很大的难度。二极管芯片计数系统就应运而生。

2. 产哑铃形试样中间平行部份宽度可以用冲刀的相应部份的平均宽度品说明

右边产品是圆片藏银案例，管芯数目超过4万第2种是石墨烯与调兵山金属氧化物复合。扩膜以后的圆片直径在6公分左右。

二、 系统说明

1. 系统配置

1) 硬件

影像设备，光照设备，打印设备，扫描设备，主机设备。

2) 软件

图像调整模块，计数模块，参数优化模块，标签设计模块，统计模块。软件界面如右图所示。

1) 可同时检测方片和圆片

2) 具有4万颗以上管芯的圆片计算时间在0.8秒以内。普通5千颗以下的方片计构成压力上不去的缘由是由于仪器加油的时分里面有杂质算时间在0.2秒以内。

3电脑椅) 高均匀的背景光照和大面阵的图像采集设备保证了数量巨大，间距极小的管芯图像的清晰度。

4) 高性能的管芯分割算法确保计数精度。

5) 局部结果放大观测功能（见软件界面中的黑色点状区域）确保软件参数设置准确。

6) 管芯有不同型号，不同蓝膜背景，系统配有对应的调整参数。

7) 自动搜寻服务器上相关产品的电测参数文件，提取特定信息生成固定文件及打印标签。

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